(A)光源：光源輻射出各種波長的光(以紫外至紅外)。  

    (B)激勵(lì)濾光源：透過能使標(biāo)本產(chǎn)生螢光的特定波長的光，同時(shí)阻擋對(duì)激發(fā)螢光無用的光。  

    (C)熒光標(biāo)本：一般用熒光色素染色。  

    (D)阻擋濾光鏡：阻擋掉沒有被標(biāo)本吸收的激發(fā)光有選擇地透射熒光，在熒光中也有部分波長被選擇透過。以紫外線為光源，使被照射的物體發(fā)出熒光的重光顯微鏡。電子顯微鏡是在1931年在德國柏林由克諾爾和哈羅斯卡首先裝配完成的。這種重光顯微鏡用高速電子束代替光束。由于電子流的波長比光波短得多，所以電子顯微鏡的放大倍數(shù)可達(dá)80萬倍，分辨的zui小極限達(dá)0.2納米。1963年開始使用的掃描電子顯微鏡更可使人看到物體表面的微小結(jié)構(gòu)。  

重光顯微鏡被用來放大微小物體的圖像。一般應(yīng)用于對(duì)生物、醫(yī)藥、微觀粒子等觀測(cè)。  

    （1）利用微微動(dòng)載物臺(tái)之移動(dòng)，配全目鏡之十字座標(biāo)線，作長度量測(cè)。  

    （2）利用旋轉(zhuǎn)載物臺(tái)與目鏡下端之游標(biāo)微分角度盤，配全合目鏡之址字座標(biāo)線，作角度量測(cè)，令待測(cè)角一端對(duì)準(zhǔn)十字線與之重合，然后再讓另一端也重合。  

    （3）利用標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)螺紋的節(jié)距、節(jié)徑、外徑、牙角及牙形等尺寸或外形。  

    （4）檢驗(yàn)金相表面的晶粒狀況。  

    （5）檢驗(yàn)工件加工表面的情況。  

    （6）檢測(cè)微小工件的尺寸或輪廓是否與標(biāo)準(zhǔn)片相符。